Egressos
O programa de Pós-graduação em Estatística Aplicada e Biometria iniciou com o nível de mestrado em outubro de 2006 e com o de doutorado em abril de 2013. Até junho de 2024 foram defendidos 186 títulos, sendo 143 de mestrado e 43 de doutorado. Abaixo pode ser consultado os respectivos egressos e os títulos de seus trabalhos.
Magister Scientiae
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Doctor Scientiae
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